MI

Įrangos rezultatai (20)

Aprašymas: Oscilografas leCroy WS454

Techninė specifikacija: 500 MHz, 2GS/s, 4ch, 8bit, 2Mpts/Ch

Taikymo sritys: Signalų vizualizavimas, parametrų matavimas ir analizė

Raktažodžiai: Oscilografas, 500MHz, dažnių ruožas, banga, vizualizavimas, FFT, signalas

Aprašymas: Labai aukštų dažnių generatoriaus paskirtis - testavimui generuoti užduoto dažnio signalą iki 31,8 GHz. Galimas įvairių moduliacijų (amplitudinės, dažninės, fazinės) signalų generavimas.

Techninė specifikacija: Nuo 100 kHz iki 20, 31.8 arba 40 GHz, prie 20 GHz 19 dBm išėjimo stiprinimas

Taikymo sritys: Elektronikos gaminių tikrinimas ir testavimas, Jutiklių simuliavimas, Mokymas

Raktažodžiai: Mikrobangos, signalas, generatorius, 40 GHz, moduliacija

Aprašymas: Oscolografas naudojamas labai aukštų dažnių signalų iki 13 GHz vizualizacijai ir analizei. 4 nepriklausomi kanalai, su įvairiomis sinchronizacijos galimybėmis, leidžia stebėti 4 šaltinių tiek impulsinio pobūdžio, tiek periodinio ar pseudoperiodinio pobūdžio signalus laike. Galima signalų spektrinė analizė realiuoju laiku, panaudojant Furjė transformaciją.

Techninė specifikacija: 13 GHz true analog bandwidth, upgradable to 33 GHz, 80 GSa/s sample rate 2 channels / 40 GSa/s sample rate 4 channels, up to 2 Gpts memory with 20 Mpts per channel

Taikymo sritys: Labai aukšto dažnio signalų matavimas, analizė ir vizualizavimas

Raktažodžiai: Osciloskopas,13 GHz, banga, signalas

Aprašymas: 3 ašių skeneris yra skirtas atlikti judesį erdėje pernešant X, Y ir Z kryptimis su 0,05 mm tikslumu prie jo galvutės pritvirtintą įrenginį.

Techninė specifikacija: Galimybė įrenginio galvutei judėti 3 pagrindinėmis ašimis, precizinė judėsio kontrolė

Taikymo sritys: Robotikos tyrimai, įvairių mechinių sistemų parametrų nustatymas.

Raktažodžiai: Robotika, precizinė mechanika, skaneris

Aprašymas: 6 ašių skeneris yra skirtas atlikti judesį erdėje, pernešant X, Y ir Z kryptimis su 0,05 mm tikslumu arba pasukant U, V ir W kampais su 0,2 laipsnio tikslumu prie jo galvutės pritvirtintą įrenginį.

Techninė specifikacija: Galimybė įrenginio galvutei judėti 3 pagrindinėmis ašimis, galimybė įrenginio galvutei suktis 3 pagrindinėmis kryptimis, precizinė judėsio kontrolė

Taikymo sritys: Robotikos tyrimai, įvairių mechinių sistemų parametrų nustatymas.

Raktažodžiai: Robotika, precizinė mechanika, skaneris

Aprašymas: Etaloninis temperatūros matuoklis su platininiu jutikliu skirtas atlikti tikslius temperatūros matavimus temperatūrų ruože nuo (-150 - 650) °C.

Techninė specifikacija: Temperatūrų ruožas -150 - 650oC, sistemos tikslumas 0,04oC, galimybė prijungti prie kompiuterio.

Taikymo sritys: Temperatūros matavimas

Raktažodžiai: Temperatūra, termometras, temperatūros daviklis, temperatūros matavimas

Aprašymas: Termostatas, skirtas įvairaus tipo temperatūros jutiklių (termoporos, platininiai jutikliai ir kt.) kalibravimui, gali dirbti tiek kaip sausas, naudojant karštą orą, tiek kaip skystinis, naudojant specialią alyvą, termostatas. Temperatūrų ruožas siekia iki 155°C

Techninė specifikacija: Nuo -22°C iki 155°C , ±0.04°C

Taikymo sritys: Temperatūros nustatymo priemonių kalibravimas

Raktažodžiai: Termostatas, temperatūra

Aprašymas: Termostatas, skirtas įvairaus tipo temperatūros jutiklių (termoporos, platininiai jutikliai ir kt.) kalibravimui, gali dirbti tik kaip sausas, naudojant karštą orą, termostatas. Temperatūrų ruožas siekia iki 700°C.

Techninė specifikacija: Nuo 33 iki 700°C, ±0.11°C

Taikymo sritys: Temperatūros nustatymo priemonių kalibravimas

Raktažodžiai: Termostatas, temperatūra

Aprašymas: Akustinių triukšmų ir vibracijų įranga APOLLO skirta akustinių ar vibrosignalų analizei atlikti realiuoju laiku. Ji jungiama prie kompiuterio per USB sąsają, kuriame įdiegta speciali programinė įranga. Galima atlikti signalų dažninę analizę, išmatuoti lygius, išsaugoti faile ir kt. veiksmus. Ši sistema užtikrina 24 bitų skyrą.

Techninė specifikacija: Mikrofonas iki 100 kHz, stiprintuvas/signalo paruošimo įrenginys iki 100 kHz, APOLLO analizės įrenginys iki 16 kHz

Taikymo sritys: Akustinių triukšmų signalų apdorojimas ir vizualizavimas

Raktažodžiai: Triukšmas, vibracija, matavimas

Aprašymas: 2 kanalų dažnio matuoklis, skirtas tokių signalų parametrų kaip dažnis, periodas, trukmė ir kt. matavimui. Šis matuoklis užtikrina 12 bitų skyrą. Jame įdiegtos papildomos statistikos ir matematinės funkcijos, leidžainčios iš karto atlikti pirminį rezultatų apdorojimą be operatoriaus įsikišimo.

Techninė specifikacija: 1mHz - 400 MHz, du kanalai, 10 MHz papildoma sinchronizacija, 12 skaičių skyra, papildomos statistikos ir matematinės funkcijos

Taikymo sritys: Dažnio matavimas realiu laiku su didele skyra

Raktažodžiai: Dažnis, signalas, kanalai, MHz

Aprašymas: Matuoklis skirtas varžų, talpų ir induktyvumų matavimui nuo 100 Hz iki 200 kHz naudojant keturlaidę jungimo schemą. Gali būti naudojamas tiek pavienių komponentų , tiek grandinėje esančių komponentų minėtų parametrų matavimui. Taip pat yra galimybė matuoti kintamą ir nuolatinę srovę, kintamą ir nuolainę įtampą. Šiuos matavimus galima atlikti nepriklausomai nuo varžos, talpos ar induktyvumo matavimo.

Techninė specifikacija: Varžos, talpos ir induktyvumo matavimo galimybė esant dažniams - 100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz, 100kHz, 200kHz. Matavimo skyra visais atvejais 0,001. Galimybė matuoti dažnį, kintamą bei nuolatinę srovę ir įtampą.

Taikymo sritys: Elektronikos komponentų ir/ar gradinių elementų parametrų matavimas

Raktažodžiai: Talpa, induktyvumas, varža, dažnis, LRC

Aprašymas: Svarstyklės, kurių maksimali apkrova 8 kg, skirtos matuoti objektų masę. Be to, panaudojant papildomą įrangą, esančią svartyklių komplektacijoje, galima nustatyti medžiagos tankį.

Techninė specifikacija: Maksimali apkrova 8kg, mažiausia apkrova - 0,5g, skyra 10mg, tankio nustatymo galimybė

Taikymo sritys: Medžiagų/objektų tankio ir masės nustatymas

Raktažodžiai: Svarstyklės, svėrimas, tankis, masė

Aprašymas: Prietaisas skirtas labai aukšto dažnio signalų spektrų analizei iki 13,2 GHz, užtikrinant 1 Hz skyrą.

Techninė specifikacija: Dažnių ruožas: 1kHz - 13,2GHz

Taikymo sritys: Aukšto dažnio signalų spektrinė analizė

Raktažodžiai: Spektrai, analizė, aukšti dažniai

Aprašymas: Oscolografas naudojamas signalų iki 600 MHz vizualizacijai ir analizei. Šis oscilografas leidžia atlikti signalų amplitudės matavimus 12 bitų skyra. 4 nepriklausomi kanalai, su įvairiomis sinchronizacijos galimybėmis, leidžia stebėti 4 šaltinių tiek impulsinio pobūdžio, tiek periodinio ar pseudoperiodinio pobūdžio signalus laike. Galima signalų spektrinė analizė realiuoju laiku, panaudojant Furjė transformaciją. Oscilografas turi galimybę, panaudojant MatLab programinę įrangą, apdoroti signalą realiuoju laiku pagal vartotojo užduotą funkciją.

Techninė specifikacija: 600 MHz, 2 GS/s, 4ch, 16 Mpts/Ch DSO

Taikymo sritys: Aukšto dažnio signalų matavimas, analizė ir vizualizavimas

Raktažodžiai: Osciloskopas, 600 MHz, banga, signalas

Aprašymas: Sistema, kurią sudaro pirminis 8 kanalų stiprintuvas, mikrofonas ir krūvio keitiklis, skirta matuoti akustiniams ir vibrosignalams. Pirminis stiprintuvas turi įdiegtus kiekvienam kanalui pastovius (neperderinamus) žemųjų dažnių signalo filtrus - nuo 3 kHz iki 100 kHz. Krūvio keitiklis leidžia prie šio pirminio stiprintuvo prijungti įvairius vibracijų keitiklius (akcelerometrus), turinčius didelį išėjimo impedansą.

Techninė specifikacija: Mikrofonas iki 20 kHz, stiprintuvas 100 kHz 8 kanalai, AC srovinės charakteristikos

Taikymo sritys: Akustinių triukšmų matavimas

Raktažodžiai: Triukšmas, vibracija, matavimas

Aprašymas: Aplinkos sąlygų matuoklis skirtas stebėti aplinką, kurioje atliekami matavimai, dažniausiai metrologinių procedūrų metu. Tai yra aktualu, kadangi gamintojai matavimo priemonėms pagrindines paklaidas garantuoja tik tam tikrose aplinkos sąlygose. Temperatūros, santykinės drėgmes, slėgio ir kt. matavimai leidžia įvertinti ar aplinkos sąlygos yra gamintojo nurodytose matavimo priemonių darbo sąlygų ribose.

Techninė specifikacija: Temperatūra 0,5°C tikslumu, drėgmė 2 % tikslumu, vėjo greitis 0,06-0,5 m/s tikslumu, apšvieta 0,02 Lux tikslumu

Taikymo sritys: Aplinkos parametrų matavimas

Raktažodžiai: Garso lygis, oro temperatūra, oro srautas, drėgmė, CO, CO2

Aprašymas: Precizinis 8,5 skaičiaus skyros multimetras leidžia atlitki įvairių elektrinių dydžių matavimus: kintama ir nuolatinė srovė, kintama ir nuolatinė įtampa, varža, dažnis. Taip pat, panaudojant termoporą, galima atlikti temperatūros matavimus. Matuoklis leidžia atlikti pirminį matavimo rezultatų apdorojimą, pasitelkiant įdiegtas matematines funcijas (vidurkinimas, sklaida, užduoto polinomo skaičiavimas ir pan.).

Techninė specifikacija: Nuolatinė įtampa <1 kV; kintama įtampa < 750 V, < 2MHz; varža <1GΩ (dviejų ir keturių laidų metodais); nuolatinė srovė < 2 A; kintama srovė < 2 A , < 100 kHz; temperatūra - priklausomai nuo termoporos - -300°C iki 1820°C;

Taikymo sritys: Įvarių elektrinių charakteristikų matavimas

Raktažodžiai: Multimetras, įtampa, srovė, temperatūra, dažnis

Aprašymas: Optinis mikroskopas turintis 4 objektyvų sukamą galvutę su 4x, 10x, 40x, 100x didinimo objektyvais leidžia tirti stebimą objektą. 5 MPix kamera, prijungta prie kompiuterio, kuriame įdiegta speciali programinė įranga, įgalina išsaugoti stebimus vaizdus failuose. Taip pat komplektacijoje yra papildomo bandinio apšvietimo įrenginys, kurio paskirtis apšviesti bandinį, kuris yra neskaidrus (nelaidus šviesai).

Techninė specifikacija: 4 objektyvų galvutė su 4x, 10x, 40x 100x objektvais. 5 MPx kamera vaizdų perkėlimui į kompiuterį, Papildomo pašvietimo įrenginys.

Taikymo sritys: Smulkių struktūrų geometrinių matmenų vertinimas/matavimas

Raktažodžiai: Mikroskopas, didinimas, objektyvas, kamera.

Aprašymas: F2 klasės svarsčių rinkinys (nuo 1 mg iki 5 kg), skirtas laboratorinių svarstyklių kalibravimui.

Techninė specifikacija: F klasės svarsčių rinkinys. Mažiausia svarsčio masė - 0,001g, didžiausia 5 kg

Taikymo sritys: Svarstyklių ir kitų svėrimų įrenginių patikra

Raktažodžiai: Masė, svarsčiai, svareliai, F klasė

Aprašymas: Dinamometrinis stendas skirtas jėgos iki 1 kN (tiek bandinį gniuždant, tiek tempant) matavimas. Stendas turi pilnai autimatizuotą (programuojamą) valdymą, užduodant norimą testavimų skaičių, eigą ir kt. Matavimo rezultatai gali būti perduodami į prijungtą kompiuterį su specialia programine įranga toliasniam apdorojimui, grafikų braižymui.

Techninė specifikacija: Maksimali indikuojama jėga - 1kN, skyra 0,5 N, tikslumas visame ruože - 0,2% nuo matuojamos vertės, galimybė matuoti jėga tempimo ir gniuždymo atvejais

Taikymo sritys: Nedidelių matmenų bandinių mechaninių savybių tyrimas, dinamometrų patikra

Raktažodžiai: Dinamometras, tempima, gniūždymas, jungo modulis, mechanika

Paslaugų rezultatai (6)

Aprašymas: Programinės įrangos galimybės nuolat didėja, o jos panaudojimas teisinės metrologijos srityje yra griežtai reglamentuotas, siekiant užtikrinti sandorio ir vartotojo apsaugą. Dėl šios priežasties reikalingas bendradarbiavimas tarp matavimo priemonių (MP) ir sistemų kūrėjų, programuotojų ir metrologų, kad išvengti "netinkamo" programinės įrangos panaudojimo pasekmių jau MP eksploatavimo metu. PĮ kūrimo etape turi būti galvojama apie programiškai valdomų MP, matavimo įrenginių ar matavimo sistemų arba kompleksų, taip pat PĮ, skirtos patikros, kalibravimo, tarplaboratorinių palyginimų rezultatams apdoroti, atitiktį metrologinėms nuostatoms ir sprendžiamos problemos, susijusios su PĮ atestacija, funkcinėmis galimybėmis.

Raktažodžiai: Matavimai, patikra, programinė įranga, metrologinė priežiūra

Aprašymas: Visos įmonėje ar laboratorijoje matavimo priemonės ir sistemos, technologiniai įrenginiai jų eksploatavimo pradžioje išbandomi, o eksploatavimo metu, siekiant užtikrinti jų funkcionalumą, techninių parametrų ir charakteristikų pastovumą, patikimumą, prižiūrimi. Tam taikomos kalibravimo arba patikros procedūros, priklausomai nuo to, kokioje industrinės ar teisinės metrologijos srityje jos naudojamos. Šioms procedūroms realizuoti reikalingos kalibravimo arba patikros metodikos, kurios numato matavimo priemonių susiejimo su tikslesne matavimo priemone galimybes. Patikros metodikoje numatoma tikrinamųjų parametrų nomenklatūra, parametrų normos, tinkamumo kriterijai, reikalavimai patikros procese naudojamų etaloninių matavimo priemonių metrologinėms charakteristikoms, nuosekliai ir vienareikšmiškai aprašoma matavimų eiga ir jų atlikimo sąlygos. Patikros metodikoje turi būti numatyti veiksmai skirti apsaugai nuo nesankcionuoto metrologinių charakteristikų pakeitimo. Kalibravimo metodika taikoma konkretaus fizikinio dydžio matavimui reikiamu tikslumu, taikoma matavimo priemonių konkretaus parametro reikšmės nustatymui. Dažniausiai kalibruojamas vienas matavimo priemonės parametras su atitinkamai parinkta etalonine priemone. Sistemos parametrai kalibruojami atskirai. Kalibravimo metodikoje pateikiama kalibravimo rezultatų neapibržčių skaičiavimo eiga.

Raktažodžiai: Metrologinė sietis, priežiūra, patikra, kalibravimas

Aprašymas: Bet kokiam specifiniam matavimui technologiniame procese ar laboratorijoje, matavimo priemonėms ir matavimo technologiniams įrenginiams prižiūrėti, reikalinga matavimo arba etaloninė įranga, nauji matavimo metodai. Ši įranga kuriama atsižvelgiant į technologinio proceso techninius parametrus, eksploatuojamų matavimo priemonių metrologinius parametrus, jų eksploatavimo sąlygas. Atlikus paklaidų santykio skaičiavimus bei įvertinus turimų įmonės etalonų bei pagalbinių priemonių įrangos galimybes bei jų metrologines charakteristikas, nustatomos optimalios etaloninių priemonių kalibravimo charakteristikos, parenkamas kompleksinis kalibravimo būdas matavimo priemonės arba sistemos siečiai užtikrinti, pateikiamos rekomendacijos kalibravimui.

Raktažodžiai: Sietis, etaloninės priemonės, matavimai, matavimo sistemos

Aprašymas: Galimybių studija arba galimybių analizė - tai detali techninė, finansinė, ekonominė ir institucinė numatomo įgyvendinti projekto analizė. Gali būti atliekama matavimo priemonių metrologinių charakteristikų identifikavimo, jų techninių ir eksploatacinių galimybių , matavimo priemonių metrologinės priežiūros proceso valdymo, matavimo priemonių ir etalonų poreikio analizė.

Raktažodžiai: Neelektrinių dydžių matavimai, metodų ir priemonių analizė

Aprašymas: Atliekamas matavimo priemonių, naudojamų tiek elektrinių (įtampa, srovė, varža, dažnis, galia ir kt.), tiek neelektrinių (masė, temperatūra, tankis, ilgis ir kt.) dydžių matavimui, kalibravimas. Yra galimybė atlikti unikalių matavimo priemonių ar sistemų charakteristikų matavimą.

Raktažodžiai: Elektriniai ir neelektriniai dydžiai, kalibravimas

Aprašymas: Akustinių triukšmo matuoklių, įtrauktų į valstybinį matavimo priemonių registrą, patikra pagal bendrąją patikros metodiką BPM 8871101-88-2008

Raktažodžiai: Triukšmo matuoklis, patikra